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闭环风洞测试台
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闭环风洞测试台

JX-CLWT100 是我们公司精心研发的科研级闭环风洞测试台,专为PCB板和电子元件的热特性分析而设计。该设备可在室温至85℃范围内准确控制测试环境温度。它能产生最高7米/秒的气流速度,并且可根据需求定制,提供最高5……

产品详情

JX-CLWT100 是我们公司精心研发的科研级闭环风洞测试台,专为PCB板和电子元件的热特性分析而设计。该设备可在室温至85℃范围内准确控制测试环境温度。它能产生最高7米/秒的气流速度,并且可根据需求定制,提供最高50米/秒的气流速度。

JX-CLWT100的透明测试舱门设计,让操作者可以直观地观察样品测试过程,并实时监控气流情况。不同于开放式风洞,本设备采用闭环循环气流设计,加热系统可以快速将空气加热到预定温度,满足某些特定标准下对热空气测试环境的要求。

精确的控制系统和广泛的温度适用范围使得JX-CLWT100风洞测试台不仅能够评估散热器性能,还能用于空气流速和温度传感器的校准工作。此设备配备了带有图形界面的控制器,简化了风洞操作的自动化过程。通过顶部的舱门,可以轻松安装或调整电路板、元件和传感器。内置的导轨系统方便用户安装各种尺寸的测试样品。侧壁上的多个仪器端口,用于连接风洞控制器,方便进行各类传感器的安装和数据读取。

技术参数:
风速范围:0~7m/s
风速精度:±1%
风速均匀性:≤1%
温度范围:RT+5℃~85℃,(RT代表:环境温度)
温度精度:±1℃
温度均匀性:≤2℃
温度稳定时间:试验过程,更换被测产品后,温度再次稳定时间≤5min。被测产品的发热量≤200W
测试区域范围(W*D*H)mm:418mm*225mm*95mm
传感器端口数目:6个
总体尺寸(L*W*H)mm:W2100mm*D700mm*H1030mm
功率:6KW
供电电压/最大电流:AC380V/12A

用途:
1、元器件研究:为半导体器件、IC的结到环境热阻的测试提供满足JSD51-6标准要求的强制对流环境。
2、散热器热特性研究:可以测试不同尺寸的散热器在不同对流条件下的热特性和流阻。
3、PCB板研究:研究PCB板在特定环境下的热量及流场分布。
4、流场可视化:在特制的测试段内,通过观察烟雾或气泡等手段直接观察风洞内的流场分布。

特点:

(1)高温测试:评估不同速度下高温对元件和电源的影响。
(2)空气动力学和压降测试:测量元件和PCB板的阻力和压降。
(3)流动特性:高速流动,湍流强度很低。
(4)风洞控制器:控制流速和温度,同时査看测试数据和监控测试。
(5)元件测试:评估气流对单个或多个元件的温度和PCB板响应及可靠性的影响。
(6)快速访问:通过测试段顶部开口快速更换测试样品。
(7)传感器端口:通过传感器接口测量压力、速度和温度。
(8)散热器特性:不同尺寸的散热器在自然对流和强迫对流情况下的热性能。
(9)传感器校准:精确的温度和速度控制可以对传感器进行精确校准。
(10)多PCB板测试:测试实际的或模拟的PCB板的热和气流分布。

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